电容是一种可以储存电荷的元件，也是电器中不可缺少的核心元件。它在电路中应用广泛，如隔直通交、耦合、旁路、滤波、调谐回路、能量转换、控制等方面。由于信息技术和电器设备的不断发展，电容需求总体上呈上升趋势。

随着电容的大量安装和使用需求，电容内部的瑕疵也随之不断产生。电容企业在生产过程中，由于存在环境、仪器质量和等主观因素的限制，电容器内部潜在的缺陷越来越多，如本体被击穿、膨胀、断裂、保险熔断等潜在瑕疵越来越多，在这样的情况下，很有必要在不破坏电容产品结构的前提下，使用虚数科技的DLIA检测对电容器的外观缺陷很有必要满足高品质的电容检测要求。

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