硅片在线视觉检测系统的基本原理是:触发相机拍照→(CCD/CMOS工业相机)采集图像→DLIA工业深度学习开发平台进行识別判断处理并反馈给PLC进行相应的处理。为提高检测效果，降低软件的处理难度，要有背光源作为辅助。DLIA工业深度学习开发平台除了可以用来进行产品的缺陷检测以外，还拥有缺陷分类、缺陷标注、人工智能训练等多种功能。

通过不断优化模板设置，进行大批量的测试，检测系统可检出非常微小的破损，如崩边、崩角、隐裂、穿孔等等。这些硅片的提前剔除为提升后道工序的品质、减少后续工艺浪费有重要意义。且检出>99．9%，误检率＜0．01%，响应时间0．1s，得到了客户的认可。

虚数科技致力于制造业工厂缺陷检测，让制造业第一步数字化升级从视觉缺陷检测开始。我司搭建的DLIA工业深度学习开发平台，应用于农业与食品加工、汽车制造、电子与半导体、医疗保健、制药业、金属零件、机械制造、产品包装、钢铁和金属、安防监控、Al视觉检测、大型工业设施、室内定位与AR导航等各个行业领域，深受市场喜爱，这是智能工厂的雏形，也是未来工厂的选择。业务资讯可添加下方微信二维码，我司专业的技术客服将给您宾至如归的服务。