划痕在图像中显示为大约在一条线上的点，通过放大或累积沿线的点，我们可以提高此类缺陷的检测可靠性。这是许多结构方法中的两种，缺陷检测结构方法使用缺陷结构的先验知识来改进检测，数学形态学可以修改并检测图像中的形状（形态）。

侵蚀操作“剥离”从明亮的物体边缘像素，扩散操作将像素添加到明亮的对象，假设物体上的光亮较亮，并且我们知道划痕的大致方向。然后，使用方向性扩展，我们可以扩展并“填充”草稿中的点，以便它们接触。然后，方向腐蚀可以选择“使”结果线“变细”，以减少“变色”的噪声像素，这就是缺陷检测结构方法的基础。

使用缺陷检测结构方法在变换中，高于阈值的每个像素都会对其进行投票以对所有可能的行进行投票，具有足够投票数（高于阈值）的可能线条表示图像中的划痕或裂缝像素线。虚数科技缺陷检测结构方法能够检测非常弱的线信号，因为它们整合了许多像素上的线的证据。它们在某些情况下效果很好，每一个新的表面缺陷都是一个挑战，但是凭借经验和正确的缺陷检测结构方法，这是可以解决的。