处理芯片商品制作离不了晶圆原材料的适用，晶圆就需要机械设备电抛光来提高表面的电阻率，根据机械设备电抛光可以获得像小镜子一样光四射的晶圆表面。但由于晶圆在打磨时表面最开始没那么整齐，因而磨擦过程中需要造成残留硅片滞留抛光布上，要是没有能够及时检验并清除这种残片，会让晶圆产品品质造成危害，影响到了成品合格率。晶圆的制作中有一步很关键的流程——机械设备电抛光，它可以有效提升晶圆的表面光滑度进而提升导电性，而虚数科技芯片缺陷视觉检测就在这一步关键工艺中。

视觉效果缺陷检测系统软件又被称为工业视觉系统，便是机器代替人工做各种各样测量分辨。它结合了电子光学、机械设备、电子器件、计算机设备等方面技术性。牵涉到电子计算机图像处理，系统识别、人工智能技术、信号分析，光机电一体化等诸多领域。图像处理和图像处理等技术的不断发展，在很大程度上促进了机器视觉行业运用的发展趋势。

虚数科技芯片缺陷视觉检测都是基于先进封装晶圆表面图象，运用相对应技术实现硅片表面的缺陷检测；光学元件关键从高分辨率CCD相机、光学设备和多方位彩色光源构成，具有明场和暗场等各个照明灯具方式，光波长及色度可调式，可以满足多种多样晶圆表面缺陷检测要求；根据高精密、高速运行运动平台相互配合照相机同歩扫描仪快速获得硅片图象。机器设备选用快速图象分布式系统并行处理处理工艺、无图案设计硅片图像处理及缺陷检测优化算法、有图案设计硅片图像处理及缺陷检测优化算法、硅片缺陷svm算法及随机森林算法。